现代经济的飞跃发展，使得各大行业也随之迅速发展起来。比如：医学化工，电子原件，能源材料，机电产品，信息通讯，汽车电子，航天航空等。其实以这些行业中，很多零部件行业中都需要用到模拟环境测试仪器。
| 检测对象 | 测试项目 | 设备名称 |
医学化工 | 1.热冲击测试：
确定光电子器件在遭受到温度剧变时的抵抗能力和产生的作用。 2.温度循环：
确定光电子器件承受*温和极低温度的能力，以及*温度和极低温度交替变化对电子器件的影响 3.恒定湿热：
确定密封和非密封光电子器件能否同时承受规定的温度和湿度 4.高温寿命：
确定光电子器件高温加速老化失效机理和工作寿命 5.高温加速老化：
加速老化过程中的基本环境应力式高温，在实验过程中，应定期监测选定的参数，直到退化超过寿命终止 6.恒温试验：
恒温试验与高温运行试验类似，应规定恒温试验样品数量和允许失效数 7.变温试验：
变化温度的高温加速老化试验是定期按顺序逐步升高温度 | 1.冷热冲击试验箱 2.高低温箱 3.高低温湿热试验箱 4.高温烤箱 5.可程式温湿度试验箱 6.恒温恒湿箱 7.快速温变箱 |
| 电子原件 | 1.热冲击测试：
确定光电子器件在遭受到温度剧变时的抵抗能力和产生的作用。 2.温度循环：
确定光电子器件承受*温和极低温度的能力，以及*温度和极低温度交替变化对电子器件的影响 3.恒定湿热：
确定密封和非密封光电子器件能否同时承受规定的温度和湿度 4.高温寿命：
确定光电子器件高温加速老化失效机理和工作寿命 5.高温加速老化：
加速老化过程中的基本环境应力式高温，在实验过程中，应定期监测选定的参数，直到退化超过寿命终止 6.恒温试验：
恒温试验与高温运行试验类似，应规定恒温试验样品数量和允许失效数 7.变温试验：
变化温度的高温加速老化试验是定期按顺序逐步升高温度 | 1.冷热冲击试验箱 2.高低温箱 3.高低温湿热试验箱 4.高温烤箱 5.可程式温湿度试验箱 6.恒温恒湿箱 7.快速温变箱 |
| 能源材料 | 1.热冲击测试：
确定光电子器件在遭受到温度剧变时的抵抗能力和产生的作用。 2.温度循环：
确定光电子器件承受*温和极低温度的能力，以及*温度和极低温度交替变化对电子器件的影响 3.恒定湿热：
确定密封和非密封光电子器件能否同时承受规定的温度和湿度 4.高温寿命：
确定光电子器件高温加速老化失效机理和工作寿命 5.高温加速老化：
加速老化过程中的基本环境应力式高温，在实验过程中，应定期监测选定的参数，直到退化超过寿命终止 6.恒温试验：
恒温试验与高温运行试验类似，应规定恒温试验样品数量和允许失效数 7.变温试验：
变化温度的高温加速老化试验是定期按顺序逐步升高温度 | 1.冷热冲击试验箱 2.高低温箱 3.高低温湿热试验箱 4.高温烤箱 5.可程式温湿度试验箱 6.恒温恒湿箱 7.快速温变箱 |
| 机电产品 | 1.热冲击测试：
确定光电子器件在遭受到温度剧变时的抵抗能力和产生的作用。 2.温度循环：
确定光电子器件承受*温和极低温度的能力，以及*温度和极低温度交替变化对电子器件的影响 3.恒定湿热：
确定密封和非密封光电子器件能否同时承受规定的温度和湿度 4.高温寿命：
确定光电子器件高温加速老化失效机理和工作寿命 5.高温加速老化：
加速老化过程中的基本环境应力式高温，在实验过程中，应定期监测选定的参数，直到退化超过寿命终止 6.恒温试验：
恒温试验与高温运行试验类似，应规定恒温试验样品数量和允许失效数 7.变温试验：
变化温度的高温加速老化试验是定期按顺序逐步升高温度 | 1.冷热冲击试验箱 2.高低温箱 3.高低温湿热试验箱 4.高温烤箱 5.可程式温湿度试验箱 6.恒温恒湿箱 7.快速温变箱 |
| 信息通讯 | 1.热冲击测试：
确定光电子器件在遭受到温度剧变时的抵抗能力和产生的作用。 2.温度循环：
确定光电子器件承受*温和极低温度的能力，以及*温度和极低温度交替变化对电子器件的影响 3.恒定湿热：
确定密封和非密封光电子器件能否同时承受规定的温度和湿度 4.高温寿命：
确定光电子器件高温加速老化失效机理和工作寿命 5.高温加速老化：
加速老化过程中的基本环境应力式高温，在实验过程中，应定期监测选定的参数，直到退化超过寿命终止 6.恒温试验：
恒温试验与高温运行试验类似，应规定恒温试验样品数量和允许失效数 7.变温试验：
变化温度的高温加速老化试验是定期按顺序逐步升高温度 | 1.冷热冲击试验箱 2.高低温箱 3.高低温湿热试验箱 4.高温烤箱 5.可程式温湿度试验箱 6.恒温恒湿箱 7.快速温变箱 |
| 汽车电子 | 1.热冲击测试：
确定光电子器件在遭受到温度剧变时的抵抗能力和产生的作用。 2.温度循环：
确定光电子器件承受*温和极低温度的能力，以及*温度和极低温度交替变化对电子器件的影响 3.恒定湿热：
确定密封和非密封光电子器件能否同时承受规定的温度和湿度 4.高温寿命：
确定光电子器件高温加速老化失效机理和工作寿命 5.高温加速老化：
加速老化过程中的基本环境应力式高温，在实验过程中，应定期监测选定的参数，直到退化超过寿命终止 6.恒温试验：
恒温试验与高温运行试验类似，应规定恒温试验样品数量和允许失效数 7.变温试验：
变化温度的高温加速老化试验是定期按顺序逐步升高温度 | 1.冷热冲击试验箱 2.高低温箱 3.高低温湿热试验箱 4.高温烤箱 5.可程式温湿度试验箱 6.恒温恒湿箱 7.快速温变箱 |
| 航天航空 | 1.热冲击测试：
确定光电子器件在遭受到温度剧变时的抵抗能力和产生的作用。 2.温度循环：
确定光电子器件承受*温和极低温度的能力，以及*温度和极低温度交替变化对电子器件的影响 3.恒定湿热：
确定密封和非密封光电子器件能否同时承受规定的温度和湿度 4.高温寿命：
确定光电子器件高温加速老化失效机理和工作寿命 5.高温加速老化：
加速老化过程中的基本环境应力式高温，在实验过程中，应定期监测选定的参数，直到退化超过寿命终止 6.恒温试验：
恒温试验与高温运行试验类似，应规定恒温试验样品数量和允许失效数 7.变温试验：
变化温度的高温加速老化试验是定期按顺序逐步升高温度 | 1.冷热冲击试验箱 2.高低温箱 3.高低温湿热试验箱 4.高温烤箱 5.可程式温湿度试验箱 6.恒温恒湿箱 7.快速温变箱 |
您的位置：