半导体检测冷热冲击试验箱是怎么测试条件？

    半导体是指常温下导电性能介于导体与绝缘之间的材料。半导体在收音机，电视机及测温上有着广泛的应用。 环境的影响对于半导体的质量和使用寿命影响因素比较大，尤其是一些半导体出口企业，不单只借助冷热冲击试验箱对半导体产品进行环境测试和实验，还会借助皓天高低温试验箱，恒温恒湿试验箱，高低温湿热交变箱。

 半导体检测冷热冲击试验箱什么样测试条件才能满足半导体需要？

 1.  款式：三箱或两箱（任意选择）

 2. 温度冲击范围：高温：（+60～+150）℃/低温：（-65～-10）℃

 3.高温区预热温度：+60℃→+180℃

 4.低温区预冷温度：-70℃～-10℃

5.试验条件：

   GB/T 2423.1-2008 试验A：低温试验方法、GB/T 2423.2-2008 试验B：高温试验方法、          GB/T2423.22-2002 试验N：温度变化试验方法 试验Na

   GJB 150.5A-2009 军用设备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验

   GJB 360A-1996   温度冲击试验、IEC 68-2-14 試驗方法 N ：温度变化

  GJB367.2-2001   通信设备通用规范   温度冲击试验

   冷热冲击试验箱试验原理分高温区、低温区两部分，测试样品放置在其中一个吊篮工作室内，通过气动方式实现样品在高低温室的切换，完成冷热温度冲击测试。*之蓄热、蓄冷结构确保试验箱恒温性能良好。