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全自动温度冷热冲击试验箱

全自动温度冷热冲击试验箱

简要描述:全自动温度冷热冲击试验箱:
用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具.

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所属分类:冷热冲击试验箱(TS系列)

产品时间:2024-07-05

详情介绍

全自动温度冷热冲击试验箱

  用途冷热冲击箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料。

 塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具.

全自动温度冷热冲击试验箱

二、特点:

  产品外形美观、结构合理、工艺先进、选材考究,具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。设备分为高温箱,低温箱,测试箱三部分,采*之断热结构及蓄热蓄冷效果,试验时待测物*静止,应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的.

   采用采用的计测装置, 控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单, 学习容易, 稳定可靠,中,英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟, 循环周期1~999次可设定, 可实现制冷机自动运转,程度上实现自动化,减轻操作人员工作量,可在任意时间自动启动﹑停止工作运行;

   箱体左侧具一直径50mm之测试孔,可供外加电源负载配线测试部件。可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能,并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能,具备高低温试验机的功能。

   具备全自动,高精密系统回路、任一机件动作,*有P.L.C锁定处理,全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高.先进科学的空气流通循环设计,使室内温度均匀,避免任何死角;完备的安全保护装置,避免了任何可能发生安全隐患,保证设备的长期可靠性

  

三: 冷热冲击箱主要技术指标

1、工作室尺寸:
  测试区尺寸: 80L/108L/150L
    
80L:内箱尺寸为50cm*40cm*40cm 

108L:内箱尺寸为60cm*40cm*45cm 

150L内箱尺寸为60cm*50cm*50cm

  2、温度范围: 高温箱+60℃~200℃

  低温箱-70~-10℃

  3温度波动度:±0.5℃

  4、温度误差:≤±3℃

  5、升温速率:30℃~+150℃ ≤30min

  6、降温速率:+30℃~-55℃ ≤75min

  以上指标均在常压、空载条件情况下测试。

  7、样品转换时间:≯15s

  8、温度恢复时间.

  9、+150℃~-40℃温度冲击恢复时间,≤5min

  试验状态:预冷温度:-55℃

  10、-40℃~+150℃温度冲击恢复时间,≤5min

  试验状态:预热温度:180℃

  温度冲击恢复时间以传感器测试位置为准

  11、电 源:380V、50HZ;三相五线制.

  12、功 率:约45KW.

  13、传感器位置:出风口;

四:满足的试验方法

  1、GB2423.1-89 试验A低温试验方法

  2、GB2423.2-89 试验B高温试验方法

  3、GB2423.22-89 试验N温度变化试验方法

  4、GJB150.3-86 高温试验

  5、GJB150.4-86 低温试验方法

  6、GJB150.5-86 冷热冲击试验

  7、产品执行标准

  8、GB10589-89 低温试验箱技术条件

  9、GB11158-89 高温试验箱技术条件

  10、GB10592-89 高、低温试验箱技术条件

  11、配件技术资料及附件

   12、技术资料:产品合格证、使用说明书、电气原理图、保修卡、外购件合格证及外购件使用说明书等

 



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