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IC芯片组恒温恒湿冲击试验箱

IC芯片组恒温恒湿冲击试验箱

简要描述:IC芯片组恒温恒湿冲击试验箱适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。

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所属分类:三箱式冷热冲击试验箱

产品时间:2024-04-18

详情介绍

IC芯片组恒温恒湿冲击试验箱医疗卫生、环保、食品、化工、生物产业、农业、文体、石油、地矿、能源、建材、电子、交通、印刷包装、纺织皮革、冶金、烟草、航天、司法、制药、汽车、电气、综合。用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。

IC芯片组恒温恒湿冲击试验箱 它的工作原理:冷循环均采用逆卡若循环,该循环由两个等温过程和两个绝热过程组成。其过程如下:制冷剂经压缩机绝热压缩到较高的压力,消耗了功使排气温度升高,之后制冷剂经冷凝器等温地和四周介质进行热交换,将热量传给四周介质。后制冷剂经阀绝热膨胀做功,这时制冷剂温度降低。后制冷剂通过蒸发器等温地从温度较高的物体吸热,使被冷却物体温度降低。此循环周而复始从而达到降温之目的

型号:TSD-100F-3P

内容量(L):100L

内尺寸:W500*H450*D450mm

外尺寸:W1450*H1550*D1860MM

冲击温度:-40~180 

它的特点:

1.具备全自动,高精密系统回路、任一机件动作,*有P.L.C锁定处理,全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高.

2.科学的空气流通循环设计,使室内温度均匀,避免任何死角;完备的安全保护装置,避免了任何可能发生安全隐患,保证设备的长期可靠性

3.可设定循环次数及除霜次数自动(手动) 除霜.

4.出风口于回风口感知器检测控制,风门机构切换时间为10秒内完成,冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。 运转中状态显示及曲线显示,发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故障的方法,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。

5.冷冻系统采用复迭高效低温回路系统设计,冷冻机组采用欧美*压缩机,并采用对臭氧系数为零的绿色环保(HFC)制冷剂R507,R23.

6.*安全保护功能:电源过载保护、漏电保护、控制回路过载、短路保护、压缩机保护、接地保护、超温保护、报警声讯提示等。



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