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TS系列冷热冲击试验箱

TS系列冷热冲击试验箱

简要描述:TS系列冷热冲击试验箱:适用于航空、航太、军工、舰船、电工、电子等产品整机及零部件的高低温冲击试验及高温或低温环境下的贮存和试验。

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所属分类:冷热冲击试验机

产品时间:2026-05-14

详情介绍

TS系列冷热冲击试验箱设备特点

规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择,充分满足不同用户的各种要求;
设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强,使用寿命长;
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到*小;
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命;
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性;
多种可选功能(测试孔、记录仪、测试电缆等)保证了用户多种功能和测试的需要;
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果;
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求;
TS系列冷热冲击试验箱
可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能

TS系列冷热冲击试验箱温度控制
可实现温度定值控制和程序控制;
全程数据记录仪(可选功能)可以实现试验过程的全程记录和追溯;
每台电机均配置过流(过热)保护/加热器设置短路保护,确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性;
USB接口、以太网通讯功能,使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要;
采用国际流行的制冷控制模式,可以自动调节压缩机制冷功率,较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%;
制冷及电控关键配件均采用国际产品,使设备的整体质量得到了提升和保证;
TS系列冷热冲击试验箱
高低温冲击设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验A:低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验B:高温
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
G**150.3A-2009 装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验
G**150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验
G** 150.5 A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
G** 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验、



TSD-80F-2P

TSD-150F-2P

TSD-200F-2P

TSD-300F-2P

标称内容积(升)

80

150

200

300

试验方式

气动风门切换2温室或3温室方式

性能

高温室

预热温度范围

60~+200

升温速率1

60→200≤20分钟

低温室

预冷温度范围

780

降温速率1

20→75≤80分钟

试验室

温度偏差

±2

温度范围

TSD:(+60→+125 TSD-40-10;TSD:+60+150 TSD-55-10; TSD:+60+150TSD:(-65-10

温度恢复时间2

5分钟以内

试样搁架承载能力

30kg

试样重量

7.5kg

7.5kg

10kg

10kg

内部尺寸(mm

W

500

600

750

850

H

400

500

500

600

D

400

500

600

800

外形尺寸(mm4

W

1460

1560

1710

1880

H

1840

1940

1940

2040

D

1500

1600

1700

1900

1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。

2恢复条件:室温为+25和循环水温为+25,试样是塑料封装集成电路。(均布)











型号


TSD-80F-2P

TSD-80F-2P



TSD-408-2P

TSD-408-2P

标称内容积(升)



200

300

试验方式

气动风门切换2温室或3温室方式

性能

高温室

预热温度范围

60~+200

升温速率1

6020020分钟

低温室

预冷温度范围

780

降温速率1

207580分钟

试验室

温度偏差

±2

温度范围

:+60→+125-40-10;

:+60+150~(-55-10;

:+60+150~(-65-10

温度恢复时间2

5分钟以内

试样搁架承载能力

30kg

试样重量

7.5kg

7.5kg

10kg

10kg

内部尺寸mm

W

500

600

750

850

H

400

500

500

600

D

400

500

600

800

外形尺寸mm4

W

1460

1560

1710

1880

H

1840

1940

1940

2040

D

1500

1600

1700

1900

1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。

2恢复条件:室温为+25和循环水温为+25,试样是塑料封装集成电路。(均布)















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